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關(guān)于紅外焦平面探測(cè)器看這一篇就夠了

發(fā)布時(shí)間： 2021-08-18　　點(diǎn)擊次數(shù)： 2422次

　　焦平面探測(cè)器是將紅外輻射能轉(zhuǎn)換為電能或其他物理量的器件稱為紅外探測(cè)器。紅外探測(cè)器分為紅外光量子探測(cè)（光電伏特校應(yīng)，光伏型）和熱探測(cè)（熱電效應(yīng)，常見光導(dǎo)型）二類，當(dāng)前高性能紅外焦平面探測(cè)儀器主要是量子效率較高的光伏型探測(cè)器。根據(jù)大氣對(duì)紅外輻射透射率窗口，紅外探測(cè)器覆蓋的紅外波段為短波、中波、長(zhǎng)波和超長(zhǎng)波，紅外焦平面探測(cè)儀器的波段劃分表。
　　焦平面作圖法是作一條平行于已知光線并且過光心的光線，然后在透鏡另一側(cè)做一條垂直于主光軸的虛線，然后延長(zhǎng)所做的那條光線使他和這條虛線有一個(gè)交點(diǎn)，我們叫它為A點(diǎn)，接著連接已知光線與透鏡的交點(diǎn) 和 A點(diǎn) 并繼續(xù)延長(zhǎng)，便可以得到像的位置。
　　紅外焦平面探測(cè)器的噪聲等效溫差是決定熱成像系統(tǒng)性能的關(guān)鍵性參數(shù)。光量子類紅外焦平面陣列的NETD值范圍通常在0.1～0.O1K，使用f/2光學(xué)時(shí)，InSb、GaAIAs、HgCdTe的320×256元陣列和1024×768元陣列都可達(dá)到0.OIK的NETD值，適合于星載、機(jī)載等移動(dòng)平臺(tái)成像偵察和成像制導(dǎo)等中高性能的系統(tǒng)應(yīng)用；非制冷型紅外焦平面陣列0.1K的NETD可滿足便攜式熱像儀和熱瞄具等低檔的系統(tǒng)應(yīng)用需求。
　　為滿足紅外熱成像系統(tǒng)的使用要求，對(duì)紅外焦平面的選擇原則可以從系統(tǒng)光譜響應(yīng)范圍、系統(tǒng)空間分辨率、系統(tǒng)靈敏度及制冷方式、系統(tǒng)工作頻率、系統(tǒng)可靠性等方面綜合考慮。
　　紅外焦平面探測(cè)器組件是集光電子技術(shù)、微電子技術(shù)、低溫電子技術(shù)、真空技術(shù)、微組裝技術(shù)等現(xiàn)代電子技術(shù)于一體的核心電子器件，充分了解其光、機(jī)、電性能和特點(diǎn)才能大限度地發(fā)揮其功能，使用過程中要保持杜瓦內(nèi)的真空環(huán)境，按光學(xué)要求保護(hù)紅外窗口，還要特別注意按微電子器件要求做好靜電防護(hù)工作。

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